MATBI010
MATBI010

DapuStor MATBI010 是深圳市大普微电子科技有限公司自主开发的一款PCIE SSD研发测试、量产测试系统,该系统的测试软件平台控制测试机柜的测试环境(温度/电压)并调用测试节点端的测试脚本针对SSD在量产过程中进行功能、性能、老化、压力等测试。

该系统也可作为通用硬盘驱动器的测试设备,具有容量密度高、体积小、可扩展性好等优点,同时还允许用户自定义和开发测试脚本,更专业化和智能化。


  关键特性

专业PCIe NVMe SSD测试系统;

主流测试配置:

120 slot 2.5寸/AIC SSDs(环境温度 0~85 ºC)

240 slot 2.5寸/AIC SSDs(环境温度 +10 ºC~85 ºC)

温度范围: 0 ~85°C温度范围: 环境+ 10 ºC + 85ºC 

可编程的单DUT板电流和电压设置

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小体积 (19”机架为基础)

友好的用户下拉菜单驱动脚本语言

可视化温度控制和监控功能

友好用户界面,简易测试控制(启动/停止)和监控(状态)

单屏显示被测试设备(DUT) 所有Devices

实时显示性能、吞吐量、IOPS,温度和功耗

GUI允许从脚本级通过DUT接口命令和下位级的写和读操作直观地进行监视

专业的PCIE SSD工程样品、可靠性、质量和生产测试脚本完整测试模型库多线程高性能测试

远程访问测试系统

DUT测试板独立操作,可同时调试驱动器和继续测试其他DUT

未来存储产品需求可再升级该测试系统

每个端口独立运行

可扩展性强,测试机架可级联,以提高测试能力


  机械尺寸

外部尺寸:宽x高x深=1450 x 1860x 1070cm


  输入电压

380V三相(380V15A /380V30A),可满足国际电压要求


  软件

测试结果以清晰、详细的图表和图形形式呈现

测试脚本开发工具

GUI界面的测试控制平台

详细的交互式shell命令调试界面报表功能

每个DUT信息可单独捕获

同时运行多个测试

用户定义的API插件

Python/C 支持


MATBI010


  应用程序

工厂生产测试

资质

质量保证

• Reliability Demonstration Testing 

• Ongoing Reliability Testing (ORT)

• Design Verification Testing (DVT)

设备检查/筛选

JEDEC and SNIA 认证


  选项

军工级极限温度测试能力

触摸屏

兼容多Form Factors适配器和夹具

测试套件设计和开发服务

视觉/声音报警

主操作控制台可监控多个系统